粒度分析儀（PSA），掃描電子顯微鏡（SEM）和UV-可見(jiàn)分光光度計(jì)表征合成的產(chǎn)物。 XRD圖譜證實(shí)了合成樣品的四方結(jié)構(gòu)。使用Debye-Scherrer公式從X射線(xiàn)譜展寬確定合成的納米顆粒的平均微晶尺寸。隨著煅燒溫度從300℃升高到800℃，微晶尺寸在8到33nm之間變化通過(guò)溶膠凝膠法合成未摻雜和摻雜銀的TiO 2納米顆粒（Ti 1-x Ag x O 2，其中x = 0.00-0.10）。通過(guò)X射線(xiàn)衍射（XRD）。

 

動(dòng)態(tài)光散射法(DLS)，粒度分析儀有時(shí)稱(chēng)為準(zhǔn)彈性光散射法（QELS），是一種成熟的非侵入技術(shù)，可測(cè)量亞微細(xì)顆粒范圍內(nèi)的分子與顆粒的粒度及粒度分布，使用新技術(shù)，粒度可小于1nm。 動(dòng)態(tài)光散射法的典型應(yīng)用包括已分散或溶于液體的顆粒、乳劑或分子表征。 懸浮在溶液中的顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)，造成散射光光強(qiáng)的波動(dòng)。 分析光強(qiáng)的波動(dòng)得到顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度，再通過(guò)斯托克斯-愛(ài)因斯坦方程得到顆粒的粒度。與未摻雜的TiO 2相比，摻入3至5％Ag +代替Ti 4+引起納米晶體尺寸的減小。

 

粒度分析儀SEM顯微照片顯示顆粒的團(tuán)聚球形形態(tài)。 SEM，PSA和XRD測(cè)量顯示粉末的顆粒尺寸為納米級(jí)。所有系統(tǒng)均可與 MPT-2 自動(dòng)滴定儀連接使用，實(shí)現(xiàn)趨勢(shì)測(cè)量和樣品制備的自動(dòng)化。光學(xué)吸收測(cè)量表明在銀摻雜時(shí)吸收帶邊緣發(fā)生紅移。通過(guò)UV-Vis光譜儀測(cè)量的未摻雜和Ag摻雜的TiO 2納米顆粒的直接允許帶隙在500℃下分別為3.00和2.80eV。